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PKU CSCD

摘要:

本文利用扫描热显微镜 (SThM) ,以微米级的空间分辨率 ,测量了SiC Cu和SiC Al电封装复合材料增强相  基体的界面特征和界面导热性能。SThM热图显示出材料界面导热性能的差异 ,对形貌数据和热数据进行统计分析和转换 ,确定了复合材料的界面宽度和界面导热率

关键词:

复合材料 扫描热显微镜(SThM) 电封装 界面热传导

作者机构:

  • [ 1 ] 北京工业大学材料学院 北京100022
  • [ 2 ] 清华大学物理系 北京100084

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来源 :

电子显微学报

年份: 2001

期: 03

页码: 238-243

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