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对Fukui法测量MESFET栅极串联电阻的改进
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本文描述了改进的 Fukui法 .利用改进的 Fukui法可以精确地测量 Ga As MESFET的栅极串联电阻 .实测结果表明 ,漏 -源电阻的测量受栅势垒内建电势影响较小而受夹断电压影响较大 ,从漏 -源电阻与 X( X为栅势垒内建电势、夹断电压和栅 -源电压的函数 )关系曲线的弯曲方向可以定性地判断夹断电压的误差方向
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来源 ：
半导体学报
年份： 1999
期： 03
页码： 250-253
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信息学部 电子科学与技术学院（微电子学院）
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