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基于频域光学相干层析成像畸变矫正的折射率测量方法
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本文提出一种基于频域光学相干层析成像技术的折射率测量方法，通过对受到折射率变化影响产生畸变的层析图进行分析，计算得到样品折射率。分析了频域光学相干层析图的畸变原因，实验记录了8 层堆叠的盖玻片样品的频域OCT 层析图。通过分析计算带有轴向畸变的层析图，获得了盖玻片折射率的测量结果。对层析图的轴向畸变进行矫正，获得了无畸变结构的层析图。
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来源 ：
年份： 2015
页码： 531-531
语种： 中文
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