摘要：
针对工业结构中裂纹缺陷的定位和方向识别问题，发展了一种基于超声阵列技术的矢量全聚焦成像方法。在修正的全聚焦成像基础上，提出了一种利用子阵列在聚焦点处矢量方向判断缺陷方向的方法，并将其应用于不同角度裂纹的方向识别。对单裂纹CIVA仿真模型进行了全矩阵数据采集和矢量全聚焦成像，研究发现，子阵列检测参数对裂纹方向识别具有不同程度的影响。因此，提出了子阵列检测参数的最优组合，可同时应用于多裂纹试块的缺陷定位和方向识别。
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年份： 2015
页码： 72-77
语种： 中文
