• Complex
  • Title
  • Keyword
  • Abstract
  • Scholars
  • Journal
  • ISSN
  • Conference
搜索

Author:

王文博 (王文博.) | 宇慧平 (宇慧平.)

Abstract:

电子设备在冲击载荷的作用下可能会导致电子设备出现PCB分层、焊点断裂、引线断裂或组件封装断裂等失效模式,本文采用Solidwork软件建立物理模型,然后采用有限元仿真软件建立电子设备的有限元模型,对电子设备进行冲击分析,研究冲击载荷对电子设备的影响,计算结果表明:在横向冲击的载荷下,箱体的最大应力出现在主板和箱体的连接处,电路板的最大变形在主板网口处。

Keyword:

冲击载荷 数值仿真 电子设备

Author Community:

  • [ 1 ] 北京工业大学机械工程与应用电子技术学院

Reprint Author's Address:

Email:

Show more details

Related Keywords:

Related Article:

Source :

Year: 2020

Language: Chinese

Cited Count:

WoS CC Cited Count: 0

SCOPUS Cited Count:

ESI Highly Cited Papers on the List: 0 Unfold All

WanFang Cited Count:

Chinese Cited Count:

30 Days PV: 1

Online/Total:604/5436594
Address:BJUT Library(100 Pingleyuan,Chaoyang District,Beijing 100124, China Post Code:100124) Contact Us:010-67392185
Copyright:BJUT Library Technical Support:Beijing Aegean Software Co., Ltd.