Abstract：
声学显微镜[1]是利用声波对物质内部特性进行高分辨率成像研究的系统和技术,它依据声波对物质的穿透性,可以对不透明的材料内部进行成像。自Weglein[2]发现材料的声学特征(Acoustic Material Signature,AMS)后,超声显微镜在材料性质测量方面得到了长足的发展,目前超声显微镜的应用除超声扫描成像外,还实现了对材料性质的定量检测,特别是对微小区域的弹性性能测定。
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Source ：
Year： 2014
Page： 67-67
Language： Chinese
