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左勇 (左勇.) | 马立民 (马立民.) | 刘思涵 (刘思涵.) | 舒雨田 (舒雨田.) | 郭福 (郭福.) (学者:郭福)

摘要:

  焊点在电子产品中起着电气互联和机械互联的双重作用,焊点的可靠性问题决定了整个电子产品的可靠性。电子产品的微型化和多功能化需求使每个焊点上承受的力学、热学以及电学载荷越来越高,使焊点的可靠性问题日益突出。目前,由单一条件引起的可靠性问题,例如高电流密度引起电迁移失效,热循环引起的疲劳等问题等都获得了广泛的关注和研究。

关键词:

热疲劳 电迁移 耦合作用

作者机构:

  • [ 1 ] [左勇]北京工业大学 材料科学与工程学院
  • [ 2 ] [马立民]北京工业大学 材料科学与工程学院
  • [ 3 ] [刘思涵]北京工业大学 材料科学与工程学院
  • [ 4 ] [舒雨田]北京工业大学 材料科学与工程学院
  • [ 5 ] [郭福]北京工业大学 材料科学与工程学院

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来源 :

年份: 2013

页码: 279-279

语种: 中文

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