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朱满康 (朱满康.) | 管晓辉 (管晓辉.) | 吴兴轩 (吴兴轩.) | 侯育冬 (侯育冬.) (学者:侯育冬) | 严辉 (严辉.)

摘要:

BaTiSi2O7具有独特的TiO5四方单锥,有利于抑制离子极化弛豫引起的介电损耗.采用传统氧化物混合法制备了BaTiSi2O7陶瓷.X射线衍射和Raman散射光谱分析表明,该陶瓷具有纯BaTiSi2O7相,其结构中含有TiO5四方单锥结构.同时,高频电学分析表明,随着烧结温度的增加,其相对介电常数在0.1 kHz~1 GHz频率范围内为8~10,介电损耗在10-4左右,有望作为低损耗微波介质材料.

关键词:

制备工艺 微波介质陶瓷 性能表征 结构分析

作者机构:

  • [ 1 ] [朱满康]北京工业大学
  • [ 2 ] [管晓辉]北京工业大学
  • [ 3 ] [吴兴轩]北京工业大学
  • [ 4 ] [侯育冬]北京工业大学
  • [ 5 ] [严辉]北京工业大学

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年份: 2012

页码: 189-192

语种: 中文

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