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[会议论文]
光学相干层析成像深度特性及折射率测量
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光学相干层析成像技术作为一种全新的光学断层成像技术,主要利用干涉原理来实现对样品的信息采集,根据是否进行深度方向上的扫描可以将其分为时域OCT 和频域OCT.在测量样品一定时,对于系统本身,光栅的分光能力越强,CCD 的分辨率越高,光源的相干长度越长,频域OCT 系统的透射的最大深度越深.
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来源 ：
年份： 2012
页码： 1-1
语种： 中文
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