Abstract：
本文利用原位透射电子显微学技术，对Ge1Sb2Te4和Ge2Sb2Te5薄膜晶化过程进行了原位研究，揭示了GeSbTe合金成分的改变对数据读写性能影响。
Keyword：
Reprint Author's Address：
Email：
Source ：
Year： 2012
Page： 38-38
Language： Chinese
Cited Count：
WoS CC Cited Count： 0
SCOPUS Cited Count：
ESI Highly Cited Papers on the List： 0 Unfold All
WanFang Cited Count： -1
Chinese Cited Count：
30 Days PV： 0
