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[会议论文]
GeSbTe薄膜的原位电子显微学研究
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本文利用原位透射电子显微学技术，对Ge1Sb2Te4和Ge2Sb2Te5薄膜晶化过程进行了原位研究，揭示了GeSbTe合金成分的改变对数据读写性能影响。
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年份： 2012
页码： 38-38
语种： 中文
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