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作者:

李玮 (李玮.) | 武伟 (武伟.) | 秦飞 (秦飞.) (学者:秦飞)

摘要:

在TSV制作和使用过程中,TSV需要承受不同的温度循环,由于转接板上铜和硅的热膨胀系数的不匹配性,其界面处容易发生开裂和分层,导致失效。为了延长使用寿命,需要优化出最佳的通孔尺寸使得其应力最小,从而降低失效的可能性。通过ANSYS进行模拟,发现通孔直径越小,转接板上应力越小,从而TSV的可靠性有所提高。

关键词:

TSV 热应力 通孔直径

作者机构:

  • [ 1 ] 北京工业大学机械工程与应用电子技术学院力学系

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来源 :

年份: 2012

语种: 中文

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