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张斌 (张斌.) | 邓青松 (邓青松.) | 刘显强 (刘显强.) | 谷立新 (谷立新.) | 韩晓东 (韩晓东.) (Scholars:韩晓东) | 张泽 (张泽.)

Abstract:

  本文通过对GeZ Sbz Te,非晶薄膜进行电子衍射实验,分析发现,当电子衍射数据中包含有非弹性散射等影响因素时,其RDF结果将受到极大的影响,主要表现为峰强明显降低。

Keyword:

非晶体结构 电子衍射 半导体薄膜 径向分布函数分析法

Author Community:

  • [ 1 ] [张泽]北京工业大学固体微结构与性能研究实验室
  • [ 2 ] [张斌]北京工业大学固体微结构与性能研究实验室
  • [ 3 ] [邓青松]北京工业大学固体微结构与性能研究实验室
  • [ 4 ] [刘显强]北京工业大学固体微结构与性能研究实验室
  • [ 5 ] [谷立新]北京工业大学固体微结构与性能研究实验室
  • [ 6 ] [韩晓东]北京工业大学固体微结构与性能研究实验室

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Year: 2012

Page: 37-37

Language: Chinese

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