针对金属磁记忆这一新兴的无损检测方法对缺陷评定的标准依据问题，本文探索了材料承受高频疲劳载荷过程中损伤及磁记忆对应关系的机理问题，力图通过研究磁场及微观金相组织的变化来验证磁记忆方法在实际工程中检测的可行性。采用高周疲劳试验方法对X70　材料试件进行试验，提取试样在疲劳过程中金属磁记忆信号，在微观金相上取得早期缺陷的具象证据，在宏观上监测试样内部出现早期缺陷位置，从而论证金属磁记忆技术的可行性。结果表明：金属材料出现应力集中早期缺陷时，磁场强度Hp　曲线发生畸变，磁场强度导数dHp/dx　随之呈现突变，其变化范围由15　升高至21　左右；磁信号对于裂纹尺寸的敏感程度大约处于1-3　毫米级别；通过磁记忆曲线的突变与微观金相的对比分析，证实了磁记忆对于材料微观缺陷检测方法行之有效。