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侯碧辉 (侯碧辉.) | 刘凤艳 (刘凤艳.) | 赵金良 (赵金良.) | 岳明 (岳明.) (学者:岳明) | 王雅丽 (王雅丽.)

摘要:

  文章以稀土金属Tm纳米晶为样品,采用反射率频谱实验和霍尔效应实验的方法对自由电子浓度nP和载流子浓度nH进行研究。结果表明金属Tm的载流子浓度对应的仅仅是费米面附近的状态,晶粒纳米化使霍尔系数增大,而载流子浓度减少。

关键词:

反射率频谱 反常霍尔效应 纳米金属铥 自由电子浓度 载流子浓度

作者机构:

  • [ 1 ] [岳明]北京工业大学材料科学与工程学院
  • [ 2 ] [王雅丽]中国科学院研究生院材料科学与光电技术学院,北京 100049
  • [ 3 ] [侯碧辉]北京工业大学应用数理学院
  • [ 4 ] [刘凤艳]北京工业大学应用数理学院
  • [ 5 ] [赵金良]北京工业大学应用数理学院

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年份: 2011

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