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吕长志 (吕长志.) | 张小玲 (张小玲.) | 谢雪松 (谢雪松.) | 程尧海 (程尧海.) | 王东凤 (王东凤.) | 李志国 (李志国.)

摘要:

测试了存贮24-37年的国产14种型号晶体管的输出特性。贮存37年的3DK7F 100只中,1只发生致命性失效;4只晶体管的共射极直流电流放大倍数h_(FE)减小超规范失效,其最大退化率为-50%,年均退化率-1.35%。存贮29年的3DG101F,7只中有3只h_(FE)的减小超过-30%,占该批晶体管43%,h_(FE)最大退化从110减小到73,退化率为-34%。年均退化率-1.2%。存贮30年的J3AX54B h_(FE)增加幅度最大,从120增加到134,增加了12%。年均增加0.4%。测试结果表明:在长期贮存中,晶体管的输出特性会发生退化;h_(FE)值即有增加,也有减小。

关键词:

可靠性 晶体管 长期贮存

作者机构:

  • [ 1 ] 北京工业大学电子信息与控制工程学院微电子可靠性研究室

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年份: 2009

语种: 中文

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