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[会议论文]
基于原子力声学显微镜技术纳米力学检测方法的研究
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＜正＞静态原子力显微镜技术能够提供物质在纳米尺度分子水平上的表面形貌,在材料学、细胞生物学、纳米技术等领域得到广泛应用。超声原子力显微镜(UAFM)或原子力声学显微镜(AFAM)技术,是将原子力显微镜与超声方法相结合,即通过使原子力显微镜的悬臂梁或被测试
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年份： 2009
语种： 中文
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