• 综合
  • 标题
  • 关键词
  • 摘要
  • 学者
  • 期刊-刊名
  • 期刊-ISSN
  • 会议名称
搜索

作者:

白洁 (白洁.) | 魏建友 (魏建友.) | 秦飞 (秦飞.) (学者:秦飞)

摘要:

预测焊点疲劳已经成为电子工业最难的问题之一。最新一代计算机和电子元件都以极小的封装尺寸包含很大数量的连接点为特征。本文运用有限元数值计算模拟分析CBGA器件,分别建立了CBGA的2D和3D有限元模型,采用美国军标MIL-STD-883作为热循环加载条件,模拟了-55℃~125℃一个循环中CBGA器件的应力应变情况,并重点分析了焊球的应力应变分布。

关键词:

应力 应变 有限元数值计算 焊点可靠性 电子系统封装

作者机构:

  • [ 1 ] 北京工业大学机械工程与应用电子学院

通讯作者信息:

电子邮件地址:

查看成果更多字段

相关关键词:

来源 :

年份: 2006

语种: 中文

被引次数:

WoS核心集被引频次: 0

SCOPUS被引频次:

ESI高被引论文在榜: 0 展开所有

万方被引频次:

中文被引频次:

近30日浏览量: 1

在线人数/总访问数:5382/2943134
地址:北京工业大学图书馆(北京市朝阳区平乐园100号 邮编:100124) 联系我们:010-67392185
版权所有:北京工业大学图书馆 站点建设与维护:北京爱琴海乐之技术有限公司