高级检索
检索提示：高级检索多个条件检索时是按照顺序运算的：如 A或B与C 即:(A或B)与C
[会议论文]
一维SiC纳米线的微结构分析
作者：
摘要：
本文利用透射电子显微镜(TEM)对碳热还原反应生成的一维SiC纳米材料的微结构和形貌进行研究和表征,从实验中发现SiC纳米线中含有大量的孪晶、高密度的层错、一维无序等亚结构,以及这些结构在一维方向的交替生长,利用 V-L-S生长机理对SiC纳来线的一维生长机制讲行了探讨。
关键词：
作者机构：
通讯作者信息：
电子邮件地址：
相关关键词：
相关文章：
2011，电子显微学报
2005，2005年全国电子显微学会议
2006，电子显微学报
来源 ：
年份： 2005
语种： 中文
被引次数：
WoS核心集被引频次： 0
SCOPUS被引频次：
ESI高被引论文在榜： 0 展开所有
万方被引频次：
中文被引频次：
近30日浏览量： 1
归属院系：
材料与制造学部 固体微结构与性能研究所
材料与制造学部 本学院/部未明确归属的数据
全文获取
外部链接：
