＜正＞采用固相反应技术制备了x分别为0.05、0.08和0.11的(Ta2O5)1-x(Ti　O2)x陶瓷;在室温至600°℃范围内,测量了这些陶瓷样品的喇曼光谱随温度的变化。随着温度的升高,喇曼光谱中位于35~38cm-1的最低频移的声子模发生软化,并随之发生结构相变。喇曼光谱和实验结果都表明:组分x分别为0.05、0.08和0.11的(Ta2O5)1-x(Ti　O2)x陶瓷分别在360、450和540°℃发生了由三斜至单斜相的结构相变。上述结论得到了(Ta2O5)0.92(TiO　2)0.08单晶热膨胀系数测量数据的支持。