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[期刊论文]
非晶态 NiSiB 薄膜电阻的弛豫
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用射频溅射制备了一组厚度不同的ＮｉＳｉＢ非晶态薄膜．在不同温度下，用不同时间对薄膜进行了循环退火．实验测量了循环退火后的薄膜电阻随温度的变化，得到可逆和不可逆两组曲线．厚度较大（＞１０００）的薄膜，电阻随温度的增加而增大，厚度较小（＜４００）的薄膜，电阻随温度的增加而减小．电阻温度系数有正有负．从非晶态材料的结构弛豫出发，应用激活能谱模型和推广的Ｚｉｍａｎ理论讨论了实验所得的结果．
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来源 ：
北京航空航天大学学报
年份： 1998
期： 01
页码： 3-5
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