高级检索
检索提示：高级检索多个条件检索时是按照顺序运算的：如 A或B与C 即:(A或B)与C
[期刊论文]
新型Al金属化系统微波器件EB结的可靠性研究
作者：
收录：
摘要：
对具有Ａｌ－Ｓｉ－Ｐｄ／ＴｉＮ／Ｔｉ／ＰｔＳｉ／Ｓｉ（样品Ａ）和Ａｌ－Ｓｉ－Ｐｄ／Ｔｉ／ＰｔＳｉ／Ｓｉ（样品Ｂ）两种新型金属化结构的微波管的ＥＢ结在不同温度、相同电流条件下进行了加速寿命试验，得到其中值寿命（ＭＴＦ）相差近一倍，激活能分别为０．９２和０．７９ｅＶ，并给出了在温度和电流应力下ＥＢ结反向击穿特性的变化规律
关键词：
作者机构：
通讯作者信息：
电子邮件地址：
相关关键词：
相关文章：
1997，半导体技术
1996，半导体技术
1995，半导体情报
1998，电子工艺技术
来源 ：
半导体技术
年份： 1997
期： 03
页码： 29-33
被引次数：
WoS核心集被引频次： 0
SCOPUS被引频次：
ESI高被引论文在榜： 0 展开所有
万方被引频次：
中文被引频次：
近30日浏览量： 3
归属院系：
信息学部 电子科学与技术学院（微电子学院）
全文获取
外部链接：
