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局部屏蔽法在X-Ray残余应力测量中的应用
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本文所述的局部屏蔽法即是在Ｘ射线测量过程中的下遮挡法，即是将被测部位暴露出来，而将其余部位进行遮挡以对Ｘ射线进行屏蔽。局部屏蔽法是解决应力梯度测量中的一种有效方法，本文解决了遮挡法的关键问题并取得了良好的效果
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来源 ：
实验力学
年份： 1997
期： 01
页码： 139-142
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