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摘要:

论述了影响双极晶体管电流增益h_(FE)低温下降的重掺杂效应,结合具体器件测试并计算出了h_(FE)的低温下降值,对实测值与计算值的差异进行了分析。最后指出了改进h_FE温度特性的具体途径。

关键词:

低温失效 使用可靠性 电流增益 重掺杂效应

作者机构:

  • [ 1 ] 北京工业大学电子工程学系
  • [ 2 ] 北京航空航天大学工程系统工程系

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来源 :

北京工业大学学报

年份: 1996

期: 04

页码: 25-30

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