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[期刊论文]
双极晶体管h_（FE）低温失效分析及使用可靠性
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论述了影响双极晶体管电流增益ｈ_（ＦＥ）低温下降的重掺杂效应，结合具体器件测试并计算出了ｈ_（ＦＥ）的低温下降值，对实测值与计算值的差异进行了分析。最后指出了改进ｈ_ＦＥ温度特性的具体途径。
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来源 ：
北京工业大学学报
年份： 1996
期： 04
页码： 25-30
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信息学部 电子科学与技术学院（微电子学院）
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