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[期刊论文]
差分SPV法测量a-Si:H材料少子扩散长度的数学模型
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用差分SPV法测量a-Si:H材料的少子扩散长度,可以消除被测样品背面结的影响.本文讨论了这种测量方法的数学模型,导出了测量公式,分析了影响测量结果的各种因素.
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来源 ：
电子科学学刊
年份： 1993
期： 05
页码： 487-492
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信息学部 电子科学与技术学院（微电子学院）
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