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作者:

桂翔 (桂翔.) | 吴武臣 (吴武臣.) (学者:吴武臣) | 高光渤 (高光渤.)

摘要:

本文对G.A.Lang等关于功率晶体管热疲劳失效研究的理论模型提出了商榷意见,并给出了其补正形式和解析解。这一结果也适用于其他具有多层结构的电子器件。

关键词:

功率管 多层结构 热应力分析 电子器件

作者机构:

  • [ 1 ] 北京工业大学无线电电子学系

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来源 :

电子学报

年份: 1986

期: 03

页码: 123-125

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