功率晶体管金属化可靠性试验研究 - 文章详情页

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张秀国 (张秀国.) | 张大成 (张大成.) | 史宝江 (史宝江.) | 梁福馨 (梁福馨.) | 高光渤 (高光渤.) 展开

摘要：

＜正＞　近年来,随着卫星通讯、海底电缆、无线电摇控、电子对抗、大型电子计算机等的飞速发展,对功率晶体管的可靠性提出了越来越高的要求。　功率晶体管的可靠性有短期可靠性及长期可靠性。前者是指功率晶体管在瞬时电冲击下,抗烧毁的能力,“二次击穿”是引起这种瞬时烧毁的原因;而长期可靠性,在很大程度

关键词：

电迁徙功率晶体管金属化铝铜合金可靠性试验硅结构

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来源：

北京工业大学学报

年份： 1976

期： 00

页码： 57-66

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