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作者:

徐介平 (徐介平.)

摘要:

<正> 在制造某特定半导体器件或集成电路时所用的整套光刻掩模版通常包括好几块(例如6块),按工艺流程的前后次序分别称为一次版、二次版、……。每次版都是某个图案(下面称之为单元电路)的大量重复像(例如数百个到上千个)。它们必须满足下列要求:(1)重复像的中心距必须严格一致,否则就可能造成各次版无法套准而不能使用;(2)像的可分辨

关键词:

放大率 全息图 光刻掩模 平移不变 激光全息术 光学系统 半导体器件 窄带滤光片 空间平移不变性 参考光 单元电路

作者机构:

  • [ 1 ] 北京工业大学基础课激光研究室

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来源 :

北京工业大学学报

年份: 1974

期: 02

页码: 132-138

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