摘要：
高压电子加速器中常利用串联二极管来承受高电压,然而串联二极管的可靠性却难以保证.通过老化试验的方法,测量电子加速器中的串联二极管在交流脉冲应力下电学特性的变化来研究二极管的退化情况.结果表明:重复的正反向脉冲应力冲击会使二极管的复合电流增大,器件的欧姆接触会在初期改善,随后也发生退化.以理想因子作为敏感参数反映器件的退化程度,对不同的二极管进行对比,得出使串联二极管发生失效的原因有外部电路的影响、交流脉冲应力对器件本身造成的缺陷和器件工艺上的不足.最后,在串联二极管的使用方法上提出了意见,对于提高串联二极管的可靠性具有一定的参考意义.
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