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白天旭 (白天旭.) | 张小玲 (张小玲.) | 谢雪松 (谢雪松.) | 王伟岩 (王伟岩.) | 电子产品可靠性与环境试验 (电子产品可靠性与环境试验.)

收录:

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摘要:

用于电子加速器的串联二极管退化问题研究

关键词:

串联二极管 欧姆接触 理想因子 缺陷 退化

作者机构:

  • [ 1 ] 北京工业大学信息学部,北京100124

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来源 :

白天旭

ISSN: 1672-5468

年份: 2021

期: 1

卷: 39

页码: 52-56

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