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郭春生 (郭春生.) | 高立 (高立.) | 李世伟 (李世伟.) | 冯士维 (冯士维.) (学者:冯士维) | 任云翔 (任云翔.)

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一种HEMT器件结温的测试方法,属于电子器件测试领域。其包括HEMT器件(1)、电源(2)、器件夹具(3)、防自激电路(4)、红外热像仪(5)、温度测量计(6)、红外热像仪恒温平台(7)、仿真软件ISE。所述方法基于HEMT器件的器件参数及红外热像仪测量的温度分布结果作为边界条件,建立仿真模型;并利用不同条件下红外热像仪测量的温度分布结果验证、优化模型,保证模型的准确性;根据结温测量的精度需求,利用优化后的模型提取栅极0.05um-2um分辨率HEMT器件的结温。解决了目前红外法及其它方法不能准确测量HEMT器件结温的问题。

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专利基本信息 :

专利类型: 发明申请

申请(专利)号: CN201410539936.1

申请日期: 2014-10-14

公开(公告)日: 2015-01-28

公开(公告)号: CN104316855A

申请(专利权): 北京工业大学

法律状态: 未缴年费

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