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一种用于扫描电镜真空环境的高温测试装置
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本文公开了一种用于模拟扫描电镜真空环境的高温测试装置，测试在高、低真空环境及大气环境(10-5～105Pa)下，目标点的温度分布，并可测试施加热防护措施后对目标测试点温度降低的效果，测温范围为-40～1600℃。该测温装置包括：真空室及真空装置，热电偶测温组件，电极法兰组件，支撑法兰组件，加热台装置，及热防护挡板。本装置结构设计简单，测温精度高，测温范围广，适用于测试不同类型扫描电镜及真空设备中的温度分布。
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专利基本信息 ：
专利类型： 实用新型
申请(专利)号： CN201520599390.9
申请日期： 2015-08-10
公开(公告)日： 2016-04-06
公开(公告)号： CN205138659U
申请(专利权)： 北京工业大学
法律状态： 授权
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