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石照耀 (石照耀.) (学者:石照耀) | 方志强 (方志强.) | 汤洁 (汤洁.)

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基于双面啮合的齿轮齿距偏差测量方法,属于精密测试技术及仪器、机械传动技术领域。本发明采用一种齿条测头,基于双面啮合测量被测齿轮的齿距偏差,该齿条测头只有一个齿,其齿廓为直线,利用齿条测头先后依次进入被测所有齿槽中,与被测齿轮的左右齿面紧密接触,测量齿条测头的偏差值,最终可以得到被测齿轮的齿距偏差。本发明针对现场齿轮测量的需求,提出了一种基于双面啮合的齿条测头与被测齿轮啮合测量齿轮齿距偏差的方法,能够实现一次测量同时获得被测齿轮左右齿面的齿距偏差,大大提高了测量效率。

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专利基本信息 :

专利类型: 发明申请

申请(专利)号: CN201210127905.6

申请日期: 2012-04-26

公开(公告)日: 2012-08-22

公开(公告)号: CN102645200A

申请(专利权): 北京工业大学

法律状态: 授权

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