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汤洁 (汤洁.) | 石照耀 (石照耀.) (学者:石照耀) | 方志强 (方志强.)

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摘要:

本实用新型涉及一种齿轮双面啮合测量装置,属于精密测试技术及仪器、齿轮测量技术领域。本实用新型是基于齿轮双面啮合测量原理,齿条测头与被测齿轮紧密双面啮合运动。被测齿轮、圆光栅与旋转密珠轴系同轴安装,通过圆光栅精确控制被测齿轮旋转角度,同时记录旋转角度数据。使用微位移传感器测量齿条测头沿被测齿轮径向的位移量,使用长光栅测量测头在被测齿轮切向的位移量。这三路光栅信号通过相关数据处理可以得到被测齿轮的单项偏差。本实用新型可以实现双面啮合测量得到被测齿轮的齿廓偏差和齿距偏差,为齿轮单项偏差的测量开辟了一条新途径。

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专利基本信息 :

专利类型: 实用新型

申请(专利)号: CN201320034383.5

申请日期: 2013-01-22

公开(公告)日: 2013-07-10

公开(公告)号: CN203053405U

申请(专利权): 北京工业大学

法律状态: 授权

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