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韩晓东 (韩晓东.) (学者:韩晓东) | 郑坤 (郑坤.) (学者:郑坤) | 张泽 (张泽.)

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一种透射电镜中纳米线原位拉伸下力电性能测试装置,属于纳米材料性能原位检测领域。该发明设计通过压电陶瓷拉伸单元、微悬臂梁力学检测系统以及电学测量系统,对单根纳米线以及其它的一维纳米材料在透射电镜中实现原位拉伸,并在拉伸过程中实现可以利用透射电镜的成像系统,原位的获得纳米尺度甚至原子尺度上的变形信息,而且还可以实现弹性,塑性和断裂的力学性能定量测量,同时也可以对一维纳米材料进行电学性能测量,实现在拉伸过程中的电荷输运性能的研究。本发明结构简单,便于操作,应用范围广,具有直观性和定量检测的特性,便于解释和发现纳米材料优异的力学/电学等综合性能。

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专利基本信息 :

专利类型: 发明申请

申请(专利)号: CN200710119316.2

申请日期: 2007-07-20

公开(公告)日: 2008-01-23

公开(公告)号: CN101109687A

申请(专利权): 北京工业大学

法律状态: 未缴年费

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