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邓金祥 (邓金祥.) (学者:邓金祥) | 陈光华 (陈光华.) | 何斌 (何斌.) | 张晓康 (张晓康.) | 陈浩 (陈浩.)

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摘要:

立方氮化硼薄膜的p型掺杂方法属于宽带隙半导体薄膜掺杂领域。克服宽带隙超硬材料c-BN薄膜很难实现p型掺杂的困难,实现c-BN薄膜的有效p型掺杂。本发明步骤:(1)使用低压气相薄膜生长设备衬底上沉积一层本征c-BN薄膜,这层本征BN薄膜:薄膜厚度为200~800nm;立方相含量在40~95%;电导率在10-9~10-11Ω-1cm-1;(2)选用金属铍离子作为p型掺杂剂,离子注入铍的能量范围为80~200千电子伏特;离子注入铍的剂量范围为5×1015~1×1017ion/cm2。(3)慢速退火:慢速退火温度为600~900℃;恒温时间为40~60分钟。(4)将经过步骤(3)退火的薄膜再进行激光辐照二次杂质激活工艺:退火温度为1000~1050℃,退火时间为20~40秒钟。本发明使立方相含量在40%以上的c-BN薄膜的电导率增大近十万倍。

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专利基本信息 :

专利类型: 发明申请

申请(专利)号: CN200710178682.5

申请日期: 2007-12-04

公开(公告)日: 2008-05-07

公开(公告)号: CN101174558A

申请(专利权): 北京工业大学

法律状态: 未缴年费

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