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吉元 (吉元.) | 徐学东 (徐学东.) | 史佳新 (史佳新.) | 钟涛兴 (钟涛兴.) | 何焱 (何焱.) | 吕长志 (吕长志.) | 张虹 (张虹.) | 郭汉生 (郭汉生.)

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摘要:

绝缘材料荷电的测试方法涉及一种利用扫描电 子显微镜对绝缘材料表面荷电的测量及评价方法。本发明是采 用扫描电镜扫描样品,在入射电子束逐点扫描样品和记录成像 的过程中,由皮安-电流表逐点实时接收电子束在样品表面产生的吸收电流Ia,检测非导电样品在入射电子辐照下引起的荷电现象;通过调整数据流的收集参数,包括积分时间、步长和信号收集时间,保证采集一帧图像与收集一帧扫描图像的吸收电流基本同步;各扫描点的吸收电流Ia值通过计算机进行实时存储和处理,用以判断非导电样品表面的荷电效应;并根据评价用来优化扫描电镜的工作条件,评价非导电样品表面导电膜的质量。达到减小及消除非导电材料的荷电效应,提高图像质量和分析精度等目的。

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专利基本信息 :

专利类型: 发明申请

申请(专利)号: CN03123988.9

申请日期: 2003-06-02

公开(公告)日: 2003-11-05

公开(公告)号: CN1453575A

申请(专利权): 北京工业大学

法律状态: 未缴年费

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