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一种利用粗糙度轮廓仪的齿廓偏差测量方法
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本发明公开了一种利用粗糙度轮廓仪的齿廓偏差测量方法，本发明通过在粗糙度轮廓仪上获取渐开线圆柱齿轮齿廓数据，根据被测齿轮的参数建立渐开线齿廓模型，通过构造原始测量数据与渐开线齿廓模型在法向上的最小二乘目标函数，利用最优化求解的思想求解拟合参数，得到正交距离拟合后的原始测量数据曲线与渐开线齿廓模型，进而计算得到渐开线法向上的齿廓任意点偏差，最后将该偏差值进行评定计算，得到国家标准定义的齿廓偏差与精度等级。
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专利基本信息 ：
专利类型： 发明申请
申请(专利)号： CN202010670501.6
申请日期： 2020-07-13
公开(公告)日： 2020-11-10
公开(公告)号： CN111912373A
申请(专利权)： 北京工业大学
法律状态： 实质审查
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