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摘要：
本发明涉及半导体激光器制造领域，公开了一种单管半导体激光器老化测试装置，包括搭载平台、供电搭接件及探针组件；搭载平台用于搭载预测试的单管半导体激光器；供电搭接件安装在搭载平台上，并与探针组件相连接；供电搭接件用于伸向预测试的单管半导体激光器上侧的预设位置，以使得探针组件的端部与预测试的单管半导体激光器的电极相接触；本发明结构简单、成本低廉，可十分精细对预测试的单管半导体激光器进行通电操作，其操作便捷且精准可靠，并不会对预测试的单管半导体激光器的结构造成损坏，大大方便了对预测试的单管半导体激光器的老化测试。
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专利基本信息 ：
专利类型： 发明申请
申请(专利)号： CN202010182915.4
申请日期： 2020-03-16
公开(公告)日： 2020-06-05
公开(公告)号： CN111239581A
申请(专利权)： 北京工业大学
法律状态： 实质审查
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