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石照耀 (石照耀.) (学者:石照耀) | 李学哲 (李学哲.) | 李昱坤 (李昱坤.) | 李珂 (李珂.)

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本发明公开了一种叶片型面精密测头系统,属于叶片型面精密测量技术领域。该测头系统基于同步规划测量思想设计,由路径规划传感器、型面精测传感器、三轴精密调整滑台、转接板、转接板、转接板和测控电路等组成。其中,测控电路集成在叶片测量平台的内部,负责路径规划传感器、型面精测传感器测量数据的采集和三轴精密调整滑台的调整和控制。该测头系统充分考虑了叶片型面特点,很好的克服了上述现有技术的缺点,具有高精度、高效率、免形状等优点;结构简单、可靠性强、加装和系统集成方便;测量和规划同步进行,且不需输入理论数据用于路径规划,大大提高了测量的效率和灵活性。

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专利基本信息 :

专利类型: 发明申请

申请(专利)号: CN201711358673.4

申请日期: 2017-12-17

公开(公告)日: 2018-05-15

公开(公告)号: CN108036698A

申请(专利权): 北京工业大学

法律状态: 授权

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