收录：
摘要：
本发明公开了一种基于线结构光的斜齿轮齿向偏差测量方法，属于精密测试技术与仪器、齿轮检测技术领域。该方法首先斜齿轮的数据获取，转换数据至斜齿轮坐标系，建立齿轮齿向偏差数学模型，建立的斜齿轮数学模型，对左、右齿廓上的齿向偏差评定都有效。本发明通过一个线结构光测头即可快速获取斜齿轮左右齿面数据，提取有效的特征螺旋线数据；数据稳定且比一般方法数据全面、效率更高；因此可准确提取齿面上任意螺旋特征线；通过建立理论三维坐标模型和测头安装参数的调整函数，初始角ξ0可进行自适应的调整，且避免阴影效应的不利影响，纠正加工机床的随机误差的影响。
关键词：
通讯作者信息：
电子邮件地址：
