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本发明实施例提供一种薄片材料复磁导率测量方法和装置，该方法包括：将微带线的接地板和导带间的介质层内依次设有第一空气区域、待测样品放置区和第二空气区域，在所述待测样品放置区填充待测薄膜材料；基于传输反射法获取微带线二端口的特征阻抗和传播常数，并基于材料电磁参数与所述特征阻抗和传播常数的关系获取微带线二端口相对介电常数，基于所述相对介电常数获取所述待测薄膜材料的复磁导率。基于宽频测试过程中测量加入样品后的S参数，利用传输反射法求出填充待测薄膜材料后微带线的特征阻抗，根据电磁参数与特征阻抗关系求解出微带线二端口相对介电常数，再求解出测试频段范围下的复磁导率，具有测试频带宽，重复性强、结构简单等特点。
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