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张利国 (张利国.) (学者:张利国) | 孙启龙 (孙启龙.)

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摘要:

本发明公开了基于深度信念网络的多应力下长寿命电子器件可靠性寿命评估方法,通过加速寿命试验获得不同环境应力下器件失效数据进行可靠性特征估计,然后建立可靠性推导模型完成常应力水平下可靠性寿命推导。评估方法包括以下步骤:首先,确定影响电子元件工作可靠性的环境应力;其次,设计加速寿命试验;再次,对试验数据进行统计分析,获得不同应力水平下元件可靠性寿命估计值。最后,利用加速寿命试验数据确定可靠性推导模型。本发明解决了样本短缺,试验时间有限的问题,并采用了一种新型常应力可靠性特征推导模型,解决传统单应力估计方法易发生模型嵌套风险的问题,并且实现多应力水平下寿命推导模型的建立。

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专利基本信息 :

专利类型: 发明申请

申请(专利)号: CN201810248249.2

申请日期: 2018-03-24

公开(公告)日: 2018-10-16

公开(公告)号: CN108664690A

申请(专利权): 北京工业大学

法律状态: 实质审查

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