高级检索
检索提示：高级检索多个条件检索时是按照顺序运算的：如 A或B与C 即:(A或B)与C
[专利]
一种基于特征函数的片上金属互连线网电迁移可靠性分析方法
作者：
收录：
摘要：
本发明公开一种基于特征函数的片上金属互连线网电迁移可靠性分析方法，该算法通过将芯片中互连线网划分为同层金属组成互连树，提取互连树上的参数，将互连树作为电迁移分析的基本单元，并使用Korhonen方程对互连树上的电迁移进行模型。采用基于特征函数的方法对互连树上的Korhonen方程进行准确、高效地求解。在求解得到瞬态应力的基础上，采用二分法求解电迁移失效时间。
关键词：
通讯作者信息：
电子邮件地址：
相关关键词：
相关文章：
专利基本信息 ：
专利类型： 发明申请
申请(专利)号： CN201711395463.2
申请日期： 2017-12-21
公开(公告)日： 2018-06-15
公开(公告)号： CN108170923A
申请(专利权)： 北京工业大学
法律状态： 实质审查
被引次数：
WoS核心集被引频次： 0
SCOPUS被引频次：
ESI高被引论文在榜： 0 展开所有
万方被引频次：
中文被引频次：
近30日浏览量： 2
归属院系：
学院待认领
专利获取
外部链接：
