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摘要:

本发明公开了一种扫描/透射电子显微镜关联分析用真空移动装置,包括与扫描电镜相连接的真空腔体,其内部的二维平移台以及透射电镜样品杆偏心套筒;真空腔体前端与扫描电镜腔体法兰连接;真空腔体设置有二维平移台外接旋钮;腔体内部安装有用于实现SEM电子束成像区域精确选择的二维平移台,及其上的透射电镜样品杆偏心套筒,实现成像区域的Z轴微调。本发明结合TEM的高分辨成像和局部区域高精度成分获取和SEM能够获得大范围样品的形貌和成分的优点,实现精确定位样品研究区域、微观、纳米尺度相结合的研究样品的显微结构、成分、物相等信息;同时可用于对透射电镜加热、通电、液体及其一体化样品杆的初步测试,以保障透射电镜的安全。

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专利基本信息 :

专利类型: 发明申请

申请(专利)号: CN201610617959.9

申请日期: 2016-07-30

公开(公告)日: 2016-11-09

公开(公告)号: CN106098520A

申请(专利权): 北京工业大学

法律状态: 授权

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