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吴斌 (吴斌.) | 王学迁 (王学迁.) | 刘秀成 (刘秀成.) | 何存富 (何存富.) (学者:何存富)

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铁磁材料金相组分体积占比的微分磁导率曲线检测方法,属于微磁无损检测技术领域。不同磁滞特性的两种金相以均匀混合或分层组合方式存在时,整体材料的磁滞特性体现了两种金相磁滞特性的复合效应,且与金相组分体积占比有关。主要采用磁滞回线测量装置测得铁磁性试件的微分磁导率曲线,依据微分磁导率曲线中出现的双峰现象,提取双峰特征参数(包括单峰值、单峰面积、双峰峰值比、双峰单峰面积比),用于反映铁磁性材料金相组分体积占比的变化。基于该方法,采用适用于平面或轴类构件的磁滞回线测量装置,可以实现双相钢金相组分体积占比或者铁磁性构件表面硬化层深度的在线、无损测量。

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专利类型: 发明申请

申请(专利)号: CN201710246450.2

申请日期: 2017-04-15

公开(公告)日: 2017-06-20

公开(公告)号: CN106872565A

申请(专利权): 北京工业大学

法律状态: 撤回

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