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利用射频磁控溅射工艺制备BiFeO3薄膜阻变存储器的方法
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本发明公开了利用射频磁控溅射工艺制备BiFeO3薄膜阻变存储器的方法,本方法选择NSTO作为基底,通过射频磁控溅射法制备钙钛矿结构BFO铁电薄膜,然后通过直靶溅射在薄膜上制备0.3mmx0.3mm的顶部电极即可。与现有的技术相比,本发明工艺可控性强,易操作,成本低,制得产物纯度高。而且本发明制备的薄膜具有优越的阻变特性,并具有二极管的单向导电特性,这些优越的特性可使BFO铁电薄膜在阻变存储器中获得应用。
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专利基本信息 :
专利类型: 发明申请
申请(专利)号: CN201710246585.9
申请日期: 2017-04-16
公开(公告)日: 2017-06-13
公开(公告)号: CN106835052A
申请(专利权): 北京工业大学
法律状态: 驳回
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