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孙正阳 (孙正阳.) | 季凌飞 (季凌飞.) | 林真源 (林真源.) | 张彤 (张彤.) | 许园波 (许园波.) | 张犁天 (张犁天.)

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Abstract:

采用KrF准分子激光辐照4H-SiC制备石墨烯层,从4H-SiC晶面取向对石墨烯生长质量影响的角度开展研究工作,分析激光能量密度、脉冲数及晶面取向对石墨烯质量的影响.当激光能量密度为1.06 J/cm2,脉冲数为8000时,4H-SiC样品极性Si(0001)面和非极性a(1120)面上生长的石墨烯质量均达到最好.石墨烯与4H-SiC衬底极性Si(0001)面之间存在缓冲层,为石墨烯的生长提供了模板,得到的石墨烯更为有序,缺陷态更少;而非极性a(1120)面上生成的石墨烯与衬底之间未生成缓冲层,生长的石墨烯层较为无序,对激光参数的变化更为敏感.

Keyword:

晶面指数 材料 石墨烯 激光辐照 4H-SiC

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  • [ 1 ] [孙正阳]北京工业大学
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  • [ 6 ] [张犁天]北京工业大学

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Source :

中国激光

ISSN: 0258-7025

Year: 2020

Issue: 8

Volume: 47

Page: 44-52

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