寿命控制技术是现在广泛使用的方法,该方法旨在减少快恢复二极管(FRD)基区载流子寿命从而实现更小的反向恢复时间,同时不可避免地引起其他性能的变化.通过高能电子辐照和扩铂对1200V　FRD进行了寿命控制,并对铂扩散和电子辐照样品在正向压降温度特性、静态和反向恢复特性等方面进行了对比分析,发现铂扩散样品随扩铂温度的增加,其击穿电压变大;高能电子辐照器件呈现电压正温度系数,其正向压降和反向恢复时间(VF-tn)折中曲线更靠近原点.实验结果表明,高能电子辐照样品具有更好的温度系数、更好的VF-tn折中特性,然而反向电流在125℃却高达约210μA.