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何溪 (何溪.) | 李晓延 (李晓延.) | 张伟栋 (张伟栋.) | 张虎 (张虎.) | 朱阳阳 (朱阳阳.)

摘要:

通过过渡液相(TLP)连接工艺在320℃下保温24 h直接制备全Cu3Sn金属间化合物(IMC)微焊点,并在570℃下进行高温老化.通过扫描电子显微镜(SEM)、能谱仪(EDS)以及电子背散射衍射仪(EBSD)对全Cu3Sn微焊点高温老化过程中相演变规律和形貌变化进行了表征,在此基础上探究了IMC生长的动力学以及界面空洞萌生的机理.结果表明:全Cu3Sn微焊点中的Cu3Sn层首先会全部转变为Cu41Sn11,随后会生成一种由Cu41Sn11晶粒和弥散的α(Cu)颗粒组成的双相组织,并最终转变为均匀的α(Cu)固溶体.其次,空洞的萌生和长大发生在双相组织向α(Cu)固溶体转变过程中的焊点中心处,最终在焊点中心处产生大量连续空洞.通过对α(Cu)层进行生长动力学计算得知,在整个时效过程中,体扩散为主要扩散方式,α(Cu)激活能为11.28 kJ/mol.该研究结果对全Cu3Sn IMC微焊点的高温服役有一定的参考意义.

关键词:

Cu-Sn 微焊点 电子封装 高温服役 金属间化合物(IMC)

作者机构:

  • [ 1 ] [朱阳阳]北京工业大学
  • [ 2 ] [何溪]北京工业大学
  • [ 3 ] [李晓延]北京工业大学
  • [ 4 ] [张伟栋]中国核工业二三建设有限公司
  • [ 5 ] [张虎]北京工业大学

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来源 :

微纳电子技术

ISSN: 1671-4776

年份: 2022

期: 3

卷: 59

页码: 284-291

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