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压装式IGBT功率周期微动位移测量装置及方法
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本发明公开了一种用于测量压装绝缘栅双极型晶体管(IGBT)的功率循环中的微动位移的装置和方法。 所述IGBT包括：支架； 滑杆，可滑动地安装在所述支架上，且沿所述支架的周向设置有至少四个； 分别滑动安装在支架和滑杆上的传感器； 以及设置在所述支架内部的动力循环实验装置。
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专利基本信息 ：
专利类型： 发明授权
申请(专利)号： US18073713
申请日期： 2022-12-02
公开(公告)日： 2023-07-11
公开(公告)号： US11698248B1
申请(专利权)： Beijing University Of Technology
法律状态： 授权
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